Студопедия
Случайная страница | ТОМ-1 | ТОМ-2 | ТОМ-3
АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатика
ИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханика
ОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторика
СоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансы
ХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника

Система обратной связи

Читайте также:
  1. A. схема, отражающая состав и связи данных базы для предметной области
  2. CALS-система - Интегрированная электронная информационная система управления реализующая технологию CALS.
  3. CSRP-система - Интегрированная электронная информационная система управления, реализующая концепцию CSRP.
  4. I. Кто есть кто, или система ценностей
  5. I. Союзы причинности и союзы логической связи
  6. IV. УМСТВЕННЫЙ ТРУД КАК СИСТЕМА
  7. K1/М1] Введение. Система и задачи.

 

Пусть взаимодействие зонда с поверхностью характеризуется некоторым параметром Р. Если существует достаточно резкая и взаимно однозначная зависимость параметра Р от расстояния зонд - образец Р = P(z), то данный параметр может быть использован для организации системы обратной связи (ОС), контролирующей расстояние между зондом и образцом.

Система обратной связи поддерживает значение параметра Р постоянным, равным величине Ро, задаваемой оператором. Если расстояние зонд - поверхность изменяется (например, увеличивается), то происходит изменение (увеличение) параметра Р. В системе ОС формируется разностный сигнал, пропорциональный величине А Р = Р - Ро, который усиливается до нужной величины и подается на исполнительный элемент ИЭ. Исполнительный элемент отрабатывает данный разностный сигнал, приближая зонд к поверхности или отодвигая его до тех пор, пока разностный сигнал не станет равным нулю. Таким образом, можно поддерживать расстояние зонд-образец с высокой точностью. В существующих зондовых микроскопах точность удержания расстояния зонд-поверхность достигает величины ~ 0.01 А. При перемещении зонда вдоль поверхности образца происходит изменение параметра взаимодействия Р, обусловленное рельефом поверхности. Система ОС отрабатывает эти изменения, так что при перемещении зонда в плоскости X,Y сигнал на исполнительном элементе оказывается пропорциональным рельефу поверхности. Для получения СЗМ изображения осуществляют специальным образом организованный процесс сканирования образца. При сканировании зонд вначале движется над образцом вдоль определенной линии (строчная развертка), при этом величина сигнала на исполнительном элементе, пропорциональная рельефу поверхности, записывается в память компьютера. Затем зонд возвращается в исходную точку и переходит на следующую строку сканирования (кадровая развертка), и процесс повторяется вновь. Записанный таким образом при сканировании сигнал обратной связи обрабатывается компьютером, и затем СЗМ изображение рельефа поверхности Z = f(x,у) строится с помощью средств компьютерной графики.

Важнейшим этапом организации исследований ТМ является получение полезного сигнала от каждой точки поверхности. Этот сигнал зависящий от положения зонда над поверхностью усиливается и затем подается на вход монитора. Он управляет яркостью или цветностью соответствующих пикселей на растре, что и создает контрастное изображение. Термин «изображение» весьма условен для любого неоптического микроскопа, поскольку реально с его помощью получают двумерную матрицу чисел, отражающих изменение той или иной физической характеристики поверхности от точки к точке. Алгоритм дальнейшей компьютерной обработки этой матрицы в значительной мере определяется задачами исследования. Так одну и ту же информацию о поверхности можно вывести на экран монитора в виде изображения с градациями серого от черного до белого или в виде цветной картинки; можно построить профили изменения исследуемой характеристики вдоль избранного направления или линии равных ее значений и т.д. Обычно возвышениям на поверхности приписываются более светлые или более цветные тона, а понижениям - более темные.

 


Дата добавления: 2015-09-07; просмотров: 137 | Нарушение авторских прав


<== предыдущая страница | следующая страница ==>
Сканирующая туннельная микроскопия.| Формирование и обработка изображений

mybiblioteka.su - 2015-2024 год. (0.005 сек.)